目前，客户可以从WorX公司购买新的JIMA（日本检测仪器制造商协会）分辨率测试卡RT RC-04。新的测试卡可以用来检测微焦点和纳焦点X射线系统的分辨率。
JIMA分辨率测试卡RT RC-04，提供了23个测试区域，每个区域成T型的黑白条相间。利用RT RC-04，可以检验从0.1微米到10微米的分辨率，相对应的焦点尺寸是0.2微米到20微米，新的测试卡能够满足半导体行业的新要求，检验并校准这一工业领域的纳焦点和微焦点X射线系统。
如果您对JIMA测试卡RT RC-04感兴趣，请随时与我们联系，同时我们还供应RT RC-05和RT RC-02B。
